Werth Messtechnik JiMEAS Technology Corp.
데모 · 상담 신청

Werth 이미지 프로세싱

초정밀 이미지 프로세싱 알고리즘

대부분의 광학식 및 멀티센서 3차원 측정기에 기본으로 탑재

Werth 이미지 프로세싱

기술 사양

센서 원리Optical-lateral
정밀도 (MPE)0.2 µm
최대 측정 범위225 × 190 mm

작동 원리

카메라 a)에서 결상 광학계 b)의 도움으로 측정 대상물 c)의 이미지가 생성되며, 투과광 조명 d)을 사용합니다.

작동 원리

특장점

이미지 프로세싱을 활용한 측정은 측정 시간을 크게 단축하므로 폭넓은 분야에 활용할 수 있습니다. 수 십만개의 포인트를 빠르게 또는 동시에 측정합니다.

특장점
  • 지능형 윤곽선 이미지 프로세싱으로 측정 창 내에서 다수의 형상 요소와 자유 곡면을 빠르게 검출
  • 이미지, 윤곽, 요소 필터 덕분에 대비가 미미한 경우에도 신뢰성 있는 엣지 검출
  • (특허) 래스터 스캐닝 HD가 센서의 시야 범위와 무관하게 장비 축이 이동하는 동안 측정물의 전체 이미지를 생성
  • 변화하는 표면 특성과 색상에 맞춘 광량 자동 조정
  • 조명 특성의 표준화로 서로 다른 광학식 3차원 측정기 간 제어 파일을 손쉽게 교환 가능
  • Werth Zoom과 MultiRing®은 가변 작동 거리와 조명 각도를 갖춘 특별한 솔루션 제공

호환 장비

응용 분야

전문가와 상담하세요

귀사의 산업에 특화된 측정 난제, 지메스 엔지니어가 최적의 솔루션을 설계해 드립니다

데모 · 상담 신청