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사출·다이캐스팅 금형

사출 또는 다이캐스팅 공정을 통해 플라스틱 및 금속 제품을 생산하는 데 사용되는 금형

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사출 또는 다이캐스팅 공정을 통해 플라스틱 및 금속 제품을 생산하는 데 사용되는 금형

사출·다이캐스팅 금형은 생산된 제품이 규정된 공차를 만족할 때까지 반복적으로 조정되는 경우가 많습니다. 주요 형상 특성은 거리, 반경, 각도, 위치 편차입니다. 5 µm에서 20 µm에 이르는 엄격한 공차로 인해 까다로운 측정 불확도 기준이 요구됩니다.

금형의 형상 정밀도는 이후 대량 생산되는 모든 성형품의 품질을 결정하므로, 광학·접촉식 멀티센서를 병용하면 금형의 세부 형상과 캐비티(cavity)를 하나의 좌표계에서 종합적으로 검증할 수 있습니다.

추천 시스템

ScopeCheck® FB ScopeCheck® FB 생산 현장과 측정실 모두에 적합한 통합형 멀티센서 3차원 측정기
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ScopeCheck® MB ScopeCheck® MB 초대형 측정물을 위한 멀티센서 3차원 측정기
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Werth Image Processing IP Werth Image Processing IP Scanning Probe SP25M Scanning Probe SP25M Werth Fiber Probe® WFP 2D Werth Fiber Probe® WFP 2D Autofocus sensor Autofocus sensor Trigger Probe TP200 Trigger Probe TP200 Werth Zoom Werth Zoom Telecentric lenses with fixed magnification Telecentric lenses with fixed magnification Changing rack Changing rack Probe retraction axis Probe retraction axis Changer retraction axis Changer retraction axis Werth Multisensor System WMS Werth Multisensor System WMS
VideoCheck® FB VideoCheck® FB 대형 측정물을 위한 고정밀 멀티센서 3차원 측정기
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Werth Image Processing IP Werth Image Processing IP Scanning Probe SP25M Scanning Probe SP25M Scanning Probe SP80 Scanning Probe SP80 Werth Fiber Probe® WFP 2D Werth Fiber Probe® WFP 2D Autofocus sensor Autofocus sensor Trigger Probe TP200 Trigger Probe TP200 Werth Zoom Werth Zoom Telecentric lenses with fixed magnification Telecentric lenses with fixed magnification Changing rack Changing rack Probe retraction axis Probe retraction axis Changer retraction axis Changer retraction axis Werth Multisensor System WMS Werth Multisensor System WMS
ProbeCheck ProbeCheck 대형 측정물을 위한 접촉식 3차원 측정기
Scanning Probe SP25M Scanning Probe SP25M Changing rack Changing rack Changer retraction axis Changer retraction axis

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