SP80 스캐닝 프로브
초정밀 스캐닝 프로브
최고의 정밀도를 자랑하는 접촉식 스캐닝 시스템
기술 사양
센서 원리Tactile-electrical
정밀도 (MPE)0.6 µm
작동 원리
프로브가 측정물과 접촉하면 좌표축을 이용해 프로브를 목표 변위까지 이동시킵니다. 정확한 변위는 삼각측량 방식으로 측정되어 측정기 스케일 시스템의 좌표와 중첩된 후 측정 포인트로 저장됩니다.
특장점
SP80은 빠른 스캐닝 속도에서 최고의 정밀도를 구현하는 고해상도 접촉식 프로빙 시스템입니다. Werth 멀티센서 콘셉트에 완전히 통합되며, 주요 적용 분야로는 높은 정밀도가 요구되거나 길고 무거운 스타일러스 구성이 필요한 3D 측정입니다.
- 번거로운 검정(qualification) 과정 없이 빠르고 재현성 있게 측정 헤드 시스템 교체 가능
- 모듈식 교환 랙(MRS)의 파킹 스테이션(SCP80)을 사용하여 스타일러스(SH80)의 빠른 교체 옵션 제공
- 다양한 장착 키트를 사용하여 PH10 전동 회전/틸트 헤드와 SP80 간 빠른 교체 가능
