Werth 레이저 센서 WLP
푸코 원리 기반 레이저 변위 센서
고정밀 표면 스캐닝 시스템
기술 사양
센서 원리Optical-axial (Foucault cutting edge)
정밀도 (MPE)0.75 µm
작동 원리
푸코 나이프 에지 b)의 사용으로 레이저 빔 a)이 비대칭을 이루기 때문에, 확산 반사된 빛이 차동 다이오드 c)의 서로 다른 위치에 도달하며, 이를 통해 측정물 표면 d)까지의 거리를 산출합니다. 이미지 프로세싱 센서 f)로의 통합(조명은 미도시)은 분할 미러 e)를 통해 이루어집니다.
특장점
기존 삼각측량 센서는 측정 결과가 표면의 구조와 경사각에 크게 좌우됩니다. 이로 인해 측정 불확도가 비교적 크게 발생하여, 정밀도가 낮은 측정 작업에만 센서를 활용할 수 있습니다. Werth Zoom의 광로에 통합된 WLP 푸코 레이저 센서를 사용하면 더 나은 결과를 얻을 수 있습니다. 이 센서는 최대 80°까지 기울어진 표면이나 그에 상응하는 곡면의 빠른 평면도 측정에 특히 유용합니다.
- Werth Laser Probe의 독보적인 푸코 원리는 일반적인 TTL(Through The Lens) 레이저의 한계를 뛰어넘는 적용 분야를 제공
- WLP는 이미지 프로세싱 센서의 광로에 직접 통합되어 매우 빠른 센서 교체 가능
- 측정 작업 중 레이저 스캐닝을 시각적으로 손쉽게 관찰 가능
- 윤곽이나 표면 프로파일 스캐닝 시 초고속으로 측정
- 카메라와 센서 오프셋이 없어 측정 오차가 최소화됨
호환 장비
WERTH
EasyScope MultiSensor
이미지 처리, 스캐닝 스타일러스, 레이저를 갖춘 3D 멀티센서 좌표 측정기 패키지
WERTH
ScopeCheck S
소형 측정물 측정을 위한 멀티센서 좌표 측정기
WERTH
ScopeCheck FB
낮은 측정 불확도로 경제적인 생산 모니터링을 구현하는 고정 브리지 강성 설계
WERTH
ScopeCheck MB
초대형 측정물 측정을 위한 멀티센서 좌표 측정기
WERTH
ScopeCheck V
회전 대칭형 측정물의 정밀 측정을 위한 좌표 계측
WERTH
StentCheck
스텐트 측정을 위한 멀티센서 좌표 측정기
WERTH
NanoMatic
현장에서 소형 공구를 측정하기 위한 멀티센서 좌표 측정기
WERTH
VideoCheck S
소형 측정물 측정용 고정밀 멀티센서 좌표 측정기
