백색광 줌 센서 CFZ
이미지 프로세싱과 색수차 변위 센서 시스템을 결합한 멀티센서
세 공간 방향 모두에서 센서 오프셋 없는 초정밀 측정
기술 사양
센서 원리Optical-lateral-axial (chromatic aberration)
정밀도 (MPE)0.75 µm
최대 측정 범위1 mm
작동 원리
광대역 광원 b)의 빛이 평가 박스 a)에서 파이버 커플러 c), 광섬유 d), 결상 광학계 e)를 거쳐 측정물(위치 1), 2) 또는 3))에 투사됩니다. 반사된 빛의 강도는 측정물 f)까지의 거리에 해당하는 색상에서 가장 높습니다. 이는 분광기 g)를 통해 평가됩니다. 추가로 이미지 프로세싱 센서 i)(조명은 미도시)가 분할 미러 h)를 통해 통합됩니다.
특장점
여러 센서를 하나의 멀티센서 시스템으로 결합하면서 센서 교체 주기가 사라져 사용 편의성이 높아지고 측정 시간이 절약됩니다. 서로 다른 센서 원리를 통합한 특허받은 CFZ는 높은 유연성을 자랑합니다. 센서 오프셋이 없으므로 더 작고 더 경제적인 측정기를 사용할 수 있게 되었습니다.
- 텔레센트릭 줌 광학계의 높은 배율 범위로 낮은 측정 오차 구현
- 지능형 윤곽선 이미지 프로세싱이 측정 창 내에서 다수의 형상 요소와 자유 곡면을 인식
- 색수차 측정 원리 덕분에 표면 특성에 거의 영향받지 않는 거리 측정
- 기계적 움직임 없는 빠른 센서 교체
- 색수차 센서의 넓은 측정 범위 덕분에 센서를 측정물 표면에 따라 이동시키지 않고도 빠른 스캐닝이 가능하여 측정 시간이 더욱 단축됨
- 투명 소재의 코팅 두께도 측정 가능(옵션)
호환 장비
WERTH
ScopeCheck S
소형 측정물 측정을 위한 멀티센서 좌표 측정기
WERTH
ScopeCheck FB
낮은 측정 불확도로 경제적인 생산 모니터링을 구현하는 고정 브리지 강성 설계
WERTH
ScopeCheck MB
초대형 측정물 측정을 위한 멀티센서 좌표 측정기
WERTH
ScopeCheck V
회전 대칭형 측정물의 정밀 측정을 위한 좌표 계측
WERTH
StentCheck
스텐트 측정을 위한 멀티센서 좌표 측정기
WERTH
NanoMatic
현장에서 소형 공구를 측정하기 위한 멀티센서 좌표 측정기
WERTH
VideoCheck S
소형 측정물 측정용 고정밀 멀티센서 좌표 측정기
WERTH
VideoCheck FB
옵션으로 다중 Z축을 적용할 수 있는, 대형 측정물 측정용 고정밀 멀티센서 좌표 측정기
