백색광 센서 CFP
초정밀 색수차 포인트 센서
초정밀 표면 스캐닝 시스템
기술 사양
센서 원리Optical-axial (chromatic aberration)
정밀도 (MPE)0.25 µm
최대 측정 범위0.3 mm to 3 mm
작동 원리
광대역 광원 b)의 빛이 평가 박스 a)에서 파이버 커플러 c), 광섬유 d), 결상 광학계 e)를 거쳐 측정물(위치 1), 2) 또는 3))에 투사됩니다. 반사된 빛의 강도는 측정물 f)까지의 거리에 해당하는 색상에서 가장 높습니다. 이는 분광기 g)를 통해 평가됩니다.
특장점
색수차 측정 원리는 낮은 측정 오차와 표면 특성에 대한 높은 독립성을 보장합니다. 스캐닝 중 짧은 시간 안에 많은 포인트를 측정합니다. 이를 통해 측정 불확도와 측정 시간에 대한 요구가 높은 폭넓은 분야에 활용할 수 있습니다. 엄격한 공차가 적용된 치수는 물론 형상과 거칠기까지 측정할 수 있습니다.
- 민감하고 탄성이 있는 측정물도 측정 가능
- 센서의 넓은 측정 범위 덕분에 장비 축을 측정물 표면에 따라 이동시키지 않고도 빠른 스캐닝이 가능하여 측정 시간이 더욱 단축됨
- 반사성 또는 투명 표면 측정 가능
- 투명 소재의 코팅 두께도 측정 가능
호환 장비
WERTH
ScopeCheck S
소형 측정물 측정을 위한 멀티센서 좌표 측정기
WERTH
ScopeCheck FB
낮은 측정 불확도로 경제적인 생산 모니터링을 구현하는 고정 브리지 강성 설계
WERTH
ScopeCheck MB
초대형 측정물 측정을 위한 멀티센서 좌표 측정기
WERTH
ScopeCheck V
회전 대칭형 측정물의 정밀 측정을 위한 좌표 계측
WERTH
StentCheck
스텐트 측정을 위한 멀티센서 좌표 측정기
WERTH
NanoMatic
현장에서 소형 공구를 측정하기 위한 멀티센서 좌표 측정기
WERTH
VideoCheck S
소형 측정물 측정용 고정밀 멀티센서 좌표 측정기
WERTH
VideoCheck FB
옵션으로 다중 Z축을 적용할 수 있는, 대형 측정물 측정용 고정밀 멀티센서 좌표 측정기
