Werth Messtechnik JiMEAS Technology Corp.
Yêu cầu demo

Phương pháp quang học góc

Hệ quang học góc lệch 90°

Đo hình dạng chi tiết bằng xử lý ảnh ở nhiều vị trí quay khác nhau

Phương pháp quang học góc

Lợi ích chính

Với hệ quang học góc (đã được cấp bằng sáng chế), có thể đo quang học các hình dạng “vượt qua góc khuất”. Khả năng đo từ phía trước, sau và bên hông giúp không cần gá kẹp lại chi tiết, từ đó giảm thời gian đo.

Lợi ích chính
  • Với thiết bị thay đổi, bạn có thể thay thế quang học góc không sai để đo quang học theo nhiều hướng.

Thiết bị tương thích

Ứng dụng

Trao đổi với chuyên gia

Kỹ sư JiMEAS sẽ thiết kế giải pháp tối ưu cho các bài toán đo lường đặc thù của ngành bạn.

Yêu cầu demo