Năng lực đo lường
JiMEAS Technology vận hành đa dạng hệ thống đo lường Werth và JiMEAS với độ chính xác và độ tin cậy cao, giúp giải quyết các bài toán đo lường phức tạp trong nhiều ngành công nghiệp.
Đo kích thước và hình học bằng CT 3D
- Đo CT 3D độ phân giải cao với độ chính xác 2,5 μm và độ phân giải 0,1 μm
- Số hóa 3D không phá hủy các hình học bên trong phức tạp, kể cả vật liệu mật độ cao
- Quét CT 3D, đo kích thước và hình học, phân tích cấu trúc bên trong và dữ liệu đám mây điểm 3D
Kiểm tra khuyết tật bên trong
- Phát hiện chính xác khuyết tật bên trong mà không cần tháo rời hoặc làm hỏng chi tiết
- Phù hợp để xác minh chất lượng chi tiết đúc, ép khuôn và sản xuất bồi đắp
- Phân tích độ rỗng, phát hiện lỗ khí, kiểm tra vết nứt và phân tích tạp chất
Đo dung sai hình học GD&T
- Đo độ phân giải cao, siêu chính xác dưới 1 μm với độ phân giải cấp nanomet
- Đo và đánh giá các yếu tố hình học và dung sai theo ISO 1101
- Phân tích chính xác dung sai GD&T về hình dạng, vị trí, hướng và độ đảo
Đo hình học đặc biệt
- Đo chuyên dụng theo tiêu chuẩn DIN/ISO cho bánh răng, ren, dụng cụ và nhiều hạng mục khác
- Đo độ dày thành và phân bố 3D, phân tích va chạm và khe hở
- Đo 3D các lỗ và chốt siêu nhỏ, gồm vòi phun, stent và chân đầu nối
Đo vi hình học và bề mặt
- Đo độ phân giải cao các cấu trúc vi mô và đặc tính bề mặt bằng hệ thống đa cảm biến
- Kết hợp cảm biến quang học, tiếp xúc và CT để có kết quả đo tối ưu
- Đo vi hình học, quét quang học và độ phân giải cấp nanomet
Thiết kế ngược và báo cáo đo lường
- Khôi phục mô hình CAD 3D từ dữ liệu đo thông qua thiết kế ngược
- So sánh sai lệch với CAD và cung cấp báo cáo kiểm tra theo yêu cầu
- Thiết kế ngược, phân tích sai lệch CAD, kiểm tra mẫu đầu tiên (FAI), báo cáo theo yêu cầu và SPC
