Werth Messtechnik JiMEAS Technology Corp.
데모 · 상담 신청
White Papers

디테일에 빛을 비추다 – 다양한 표면에서의 이미지 처리와 초점 변화

2018. 06

디테일에 빛을 비추다 ? 다양한 표면에서의 이미지 처리와 초점 변화. 이미지 처리 센서와 초점 변화 센서를 탑재한 멀티센서 좌표측정기에서는 공작물 표면 이미지의 대비가 측정 결과를 좌우합니다. 다양한 기능을 통해 이 대비를 최적화할 수 있어, 측정이 까다로운 공작물도 측정할 수 있습니다.

이미지 처리 센서와 초점 변화 센서를 탑재한 멀티센서 시스템에서는 공작물 표면 이미지의 대비가 측정 결과를 좌우합니다. 다양한 기능을 통해 이 대비를 최적화할 수 있어, 측정이 까다로운 공작물도 측정할 수 있습니다. 다양한 표면에서의 이미지 처리와 초점 변화를 주제로, 멀티센서 시스템, 광학식·이미지 처리 측정, 표면 형상 측정을 실제 검사 조건에서 어떻게 검토해야 하는지 설명합니다.

이 문서를 통해 얻을 수 있는 유익한 정보

  • 다양한 표면에서의 이미지 처리와 초점 변화에서 먼저 확인해야 할 측정 조건과 적용 범위
  • 멀티센서 시스템에서 광학·접촉식·CT 센서를 조합해 완전 측정에 접근하는 방법
  • 이미지 처리, 초점 변화, 줌 광학계가 표면과 윤곽 측정에 미치는 영향
  • 표면 형상과 프로파일을 측정할 때 센서 방식별로 확인해야 할 조건
  • 내부 검토나 장비 상담 전에 정리해 두면 좋은 질문

세부 내용을 확인하시려면 PDF를 내려받아 살펴보시고, 적용 가능성은 지메스테크놀로지와 상담해 주세요.

전문가와 상담하세요

귀사의 산업에 특화된 측정 난제, 지메스 엔지니어가 최적의 솔루션을 설계해 드립니다

데모 · 상담 신청